用四探针法测量金属薄膜电阻率时可能产生误差的根源
用四探针法测量金属薄膜电阻率时可能产生误差的根源
可以采用四探针法测试出薄膜的电阻率,然后根据电阻率计算电导率吗?
四探针法中,方块电阻就是表面电阻率吗?可以采用这种四探针法直接测试薄膜的表面电阻率吗?
四探针法测量半导体电阻率和薄层电阻的问题?
电池片的电阻率用四探针怎么测
直流四探针法测量半导体的电阻率的原理是什么?有什么需要注意的嘛?
四探针可以测铝之类的金属的电阻率吗?
怎么测量半导体薄膜的电阻率
金属薄膜电阻率测量实验为什么要求测量同一电流状况下正反电压
改进KDY-1型四探针电阻率方阻测试仪(因为它只能测度标准样品的电阻率)
高程测量时的累计误差是怎么产生的
测量时误差的产生和什么有关系?