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AFM and Ellipsometry Studies of Ultra Thin Ti Film Deposited

来源:学生作业帮 编辑:作业帮 分类:综合作业 时间:2024/05/21 05:37:42
AFM and Ellipsometry Studies of Ultra Thin Ti Film Deposited on a Silicon Wafer
求下载一篇文章.
沉积在硅晶片上的超薄Ti薄膜的原子力显微镜和椭圆偏振法研究
AFM:atomic force microscopy
再问: 能否下载,不是翻译。
再答: 我没仔细看要求,我帮你上网查查看。
找不到免费的,抱歉了