XRD谱图中结晶度高说明什么

来源:学生作业帮助网 编辑:作业帮 时间:2024/05/16 17:48:06
实验得到的XRD图谱,这图谱能说明什么问题?

首先:2THETA值与晶面间距d有关(BRAGG定律),所以,你可以根据2THETA的位置,得到晶系和晶胞参数.即也可以定性.再次:峰的高度,可以用来定量或解析晶体结构,如果制样时产生了择优取向,还可

XRD谱图峰窄宽代表什么意思

鉴别物相首先从峰位入手,如果峰位能对上,初步判定为该物质;其次,还要看各衍射峰的强度相对比是否也与标准卡片上的峰强比一致,如果都一样则可肯定为该物质.峰形与样品是晶体还是非晶体有很大关系,如果是馒头峰

高分子的结晶度和熔点有什么关系

同一种材料,一般结晶度越高,熔点越高.结晶是分子链的一种有序排列,而熔点是将分子的组装结构全部破坏掉,形成分子链形式.一般结晶度越高,分子链排列越规则,就需要更高的温度来破坏,因此熔点也越高

求高手解释下这张XRD除了能说明样品是非晶的还能说明什么信息,这个馒头峰的峰位能代表什么意义么?

我见过的非晶态的物质,二氧化硅微粉就是这样的衍射峰,馒头峰估计是大量微小晶粒衍射的结果.

XRD问题:XRD中小角衍射峰能告诉我们什么信息?

通过衍射峰的峰位,可以计算该物质的Bragg长周期(L=λ/2θ),粒度等.还可用于分析特大晶胞物质的结构分析以及测定粒度在几十个纳米以下超细粉末粒子(或固体物质中的超细空穴)的大小、形状及分布.对于

XRD图普 除了对比标准图谱,还可以分析什么?

XRD是定性用的,但是也能做到不大准确的定量分析.首先和标准图谱对比,能知道其含量,具体方法:选择一个比较明显的特征峰,先算出标准图谱的这个特征峰的积分面积,然后把需要测试的样品的同一个特征峰的积分面

高结晶度的和高交联度的高聚物有没有玻璃化转变温度?

玻玻璃化转变是否存在并不取决于材料是高分子还是小分子物质,而是取决于材料内部是晶态还是非晶态(或部分结晶)结构.只有非晶态(无定形)材料才表现出玻璃化转变,晶态物质只有熔融.璃化转变温度是材料的重要特

怎么分析XRD图谱XRD图谱中峰较窄说明什么?是结晶度好吗?峰高呢?是不是晶粒较细啊?我总是搞不清楚哪个代表什么.呵呵

峰的面积表示晶体含量,面积越大,晶相含量越高.峰窄说明晶粒大,可以用谢乐公式算晶粒尺寸.峰高如果是相对背地强度高,表示晶相含量高,跟面积表示晶相含量一致.峰高如果是A峰相对B峰高很多,“两峰的高度比A

XRD图谱中峰的高低能说明什么问题吗

方面:结晶度的问题.定性:峰强越强,结晶越好!定量:可用软件(比如JADE),计算结晶度.

恩格尔系数越高说明什么?

一个家庭收入越少,其总支出中用来购买食品的费用所占的比重就越大;收入越多,在食品花费的比重就较小(因为会有相当的比重用于享受资料消费等,生活水平高).这就是恩格尔定律,定律所揭示的比率关系被称为恩格尔

xrd半峰宽表示什么物理意义

表征的是晶体的晶粒大小,晶粒越小,宽化越严重,反之晶粒越大,衍射峰越尖锐,有个谢乐公式可以根据半峰宽和d值计算晶粒大小,但这公式只能用于计算粒度小于100nm的晶粒.再问:如果半峰宽是0.204,那么

能力强说明什么?智商高?

不是.智商高不一定就能说明能力强能力的肯定是别人对你的评价人与人相处好了,真诚待人认真完成自己的工作,对人和善做事三思而后行不要对生命,或其他职位漠视,鄙夷不耻下问,尊老爱幼,不怕苦这样的人在社会那可

XRD图谱上衍射峰不明显(或缺失)说明什么?

衍射峰位置,多少决定物质的外形,(立方或六方等等),还有晶胞尺寸.(共两个因素)一般来讲,单质元素,小体积.衍射峰就少.正常的.(你可以比对大晶胞和小晶胞的衍射线数量).影响原因:测试角度小了.解决方

创造力高说明什么rt

创造力和创造性思维的关系比较紧密.创造性思维需要有很好的创造力,说明你是一个灵活应变能力比较强能不按常理出牌很聪明.要学会保持

XRD谱图中两个晶面峰值重叠

图的横轴是什么啊?不太明白.猜测可能是fcc里[333]和[511]方向的结构因子相同?

根据XRD怎么就算聚合物的结晶度

看你的个人需要了.个人比较推荐X射线衍射曲线拟合分蜂法,当然要分峰了,还要出的峰比较漂亮.详细的还在钻研中~2.第一张图比第二张图高一般说明不了什么为题,你的峰值没有移动,因为XRD的图的强度(Int

【请教】小角XRD衍射和小角XRD散射有什么区别?

小角XRD衍射缩写是SAXD,小角XRD散射的缩写是SAXS,二者的原理还是有很大的区别的.衍射对应的是周期性结构引起的相干,而散射对应的是电子密度的波动.具体可以看看这本书:也可以看看附件的那篇文献

xrd和x-ray scattering有什么关系?

一般而言:分析方面:xrd即X-raydiffraction(测试角度广角5-80度)用于鉴定物相,解析结构,织构等用途;x-rayscattering(测试角度为小角1-5度)用于测试纳米介孔材料等