作业帮XRD计算薄膜厚度
来源：学生作业帮助网 编辑：作业帮 时间：2024/05/14 18:19:35
先查查卡片,看看样品的主强峰的2THETA角是多少,然后挑选主强峰跟这个2theta角相差10到20度范围的薄膜材料.
拿BOPP薄膜来算吧,BOPP薄膜的密度是0.91那么0.91*薄膜的厚度（以微米来计量）就是每平米BOPP薄膜的克重比如40微米的BOPP薄膜,每平米的克重就是40*0.91每平米的克重有了,就可以
你应该找一个标准片进行参比,单独一片只能测出绝对吸光度用处不大.找同一种材质的标准片就可以参照比尔定律了.
明哥说了100C等于1MM
XRD可以吗?答：可以的!的确,应力分内应力和外应力,都可以用XRD定量测试.
楼主, X射线衍射法,对样品测试收费要远高于红外光谱的.如果你是单纯想测量薄膜的精确厚度,可以用红外光谱法（IR),精确度可达cm^(-1)量级.在红外光谱范围内,1000cm^
寻峰后的结果里应该有个半高宽的参数,就是计算晶粒大小的,关键是你得有一个已知晶粒大小的标样!
好像计算不了,根据谢乐公式,只能算到微米级!毫米级你用筛子一筛就知道了!
谢乐儿公式B=Kλ/Dcosθ,其中,K=0.89是常数,λ=0.15nm是波长,D是晶面间距.B的单位是弧度rad
这不是衰减,是要去除仪器的宽化效应得到真实线性来计算再问：那这种曲线一般怎么得到？
所谓的薄膜干涉就是说当薄膜的厚度等于光的波长的时候,该光在薄膜的表面和里面的反射光形成叠加效果发生干涉,紫色光的波长是所有的可见光中最短的,所以薄膜的要求厚度也是最小.
若实验未开始,在蒸镀的时候,遮上一块硅片,根据探针测试法就可以知道二氧化硅薄膜厚度了.如果已蒸镀,可用氢氟酸和氟化氨溶液将二氧化硅腐蚀,不一定要劈尖状,因为量一下腐蚀彻底的边缘硅片厚度,再与硅片上二氧
椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率椭偏法测量的基本思路是,起偏器产生的线偏振光经取向一定的1/4波片后成为特殊的椭圆偏振光,把它投射到待测样品表面时,只要起偏器取适当的透光方向,被待测样品表面反射出来的将
由于重力因素,薄膜的厚度并不是均与分布的,而是上面薄,下面厚,这样导致了光束通过薄膜时具有不同的光程差,这样就导致了原光场分布相位的变化,可以在屏幕上观察到干涉条纹
首先你需要有标准薄膜最少5片按照梯度设置.此标准薄膜厚度你是知道的.然后用此薄膜做出一条吸光度曲线.建立好之后插入未知薄膜即可测得一个吸光度.一般的软件就可以直接计算出厚度了.这个和测定溶液浓度是一个
约为1.38－1.40g/cm30.1888单位为mm,根据单位换算可以得出结论.聚酯薄膜密度所关于的典型性能：项目单位典型值测试方法厚度mm188250350DIN53370拉伸强度（MD/TD）M
吹膜机出现皱折可能由于机头安装不平、薄膜厚度不均匀、冷却不够或不均匀、夹板或牵引辊与机头中心未对准、夹板夹角太大、牵引辊的松紧不一致、卷取张力不恒定.
光线传播进去,镜头反射一部分出来,这样进去出来,不是厚度的2倍嘛.
首先说一句,扫描速度和仪器有关,一般老仪器都比较慢（因为灵敏度低）粗扫随意,选个中间的数比如5度每分钟就行了精细测定的时候要慢,比如每步0.02度,停留1s之类的不同仪器设定不同,问实验室的人是最好的