作业帮xrd三强峰指的是什么
来源：学生作业帮助网 编辑：作业帮 时间：2024/05/17 01:25:30
利用谢乐公式来计算谢乐公式的应用方法Dc=0.89λ/(Bcosθ)(λ为X射线波长,B为衍射峰半高宽,θ为衍射角)双线法（Williams-Hall）测定金属晶体中的微观应力晶块尺寸小于0.1μm,
先查查卡片,看看样品的主强峰的2THETA角是多少,然后挑选主强峰跟这个2theta角相差10到20度范围的薄膜材料.
这种专业问题还是要到百度知道上来问吧!不会得到好的解答的!
没大看明白你的问题.不过XRD峰宽化包括仪器自带的宽化和试样引起的宽化.试样引起的宽化又和试样内部应变、晶粒尺寸和层错有关.涉及晶粒尺寸部分,XRD峰宽随晶粒尺寸减小而增加.参考谢乐公式.
16.623.8各有一个标识峰,30—40间有一簇峰,你可以用JADE或者pcpdf查找标准卡片.
这不是衰减,是要去除仪器的宽化效应得到真实线性来计算再问：那这种曲线一般怎么得到？
可以把几个图合并为一个图.先画好三个图,把横坐标设置为一样的.假设你的图谱的高度最大为20,三个图的纵坐标范围分别设为（0,60）（-20,40）（-40,20）,然后编辑菜单下拉,有个合并图层,点击
要比较一下某个相在某种原材料的不同参量下的结晶度或者分量有多少对空白样（没有参量的）做一个XRD检测,视为对比实验.
XRD计算的应该算一次粒径的统计大小.优势是方便、快捷、便宜.TEM则可直观地看到粒子大小,且可在此基础向上观察多维结构、向下观测原子排序.优势是精确、直观.
有谢乐公式可以算晶面间距,并且通过峰的位置判断晶面hkl值.你可以用jade软件分析.
研磨颗粒越细越好,然后确定扫描角度
XRD是X射线衍射分析XRD图谱用来分析无机化合物的结构.通过XRD可以知道物质中所含的元素,以及元素的化合价,还可以通过相关的计算,得出该物质的空间点阵再问：谢谢了
X射线荧光衍射：利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法.按激发、色散和探测方法的不同,分为X射线光谱法(波长色散)和X射线
波数：3441.90cm-1处出现的较宽的吸收峰,对应于-OH基的反对称伸缩振动和对称伸缩振动.1629.68(HOH).1103.05(SiO)cm-1处出现的强吸收谱带归属于Si-O-Si的反对称
XRD图谱反映出的就是X射线衍射后的强度,第一看图上的峰值所对应的角度,看在哪个角度上有最大值和峰值之类的.第二比较不同方式,看图谱是否有移动,利用图形软件求出每个图谱的转折点,比较不同方式是否有红移
与标准图谱对比可以得出,但不准确
XRD:X-RayDiffractionX射线也是一种电磁波,即光,虽然根据其波长范围有硬软X射线之分,但用于晶体结构测定的X射线都是硬X射线,其波长与晶体中原子间距离处于同一数量级上[10^(-10
看你的个人需要了.个人比较推荐X射线衍射曲线拟合分蜂法,当然要分峰了,还要出的峰比较漂亮.详细的还在钻研中~2.第一张图比第二张图高一般说明不了什么为题,你的峰值没有移动,因为XRD的图的强度（Int
给你个建议,物相分析不是用一个峰就可以看出来的.如果要搞科研还是先买本现代材料研究方法的书看看.再问：做XRD看它的三强峰不是可以推断物质的晶型。我的物质主要成分不清楚，是看一些什么书？谢谢了呵呵再答
粉末的话,量多衬底用玻璃,量少用硅片.溶液可以滴在硅片上制成薄膜测薄膜的XRD,最好多滴一点.（薄膜XRD和粉末XRD不是一台机子）查看原帖