作业帮sio2的XRD标准卡片
来源：学生作业帮助网 编辑：作业帮 时间：2024/05/22 13:58:10
这种专业问题还是要到百度知道上来问吧!不会得到好的解答的!
SiO2(CaCO3)加酸溶解过滤SiO2(Fe2O3)加酸溶解过滤SiO2(NaCl)加水溶解过滤SiO2(Si)通入氧气加热Si(Al)加酸溶解过滤NaHCO3(Na2SiO3)通入CO2过滤
XRD是定性用的,但是也能做到不大准确的定量分析.首先和标准图谱对比,能知道其含量,具体方法：选择一个比较明显的特征峰,先算出标准图谱的这个特征峰的积分面积,然后把需要测试的样品的同一个特征峰的积分面
不对.二氧化硅是原子晶体,不存在单个分子结构（分子存在于分子晶体）,所以不能这么说.SiO2仅仅体现了原子的个数比,是一个宏观的表示方法,并不是分子式.所以这句话不对.
好多人都要啊,给你发了~
16.623.8各有一个标识峰,30—40间有一簇峰,你可以用JADE或者pcpdf查找标准卡片.
这不是衰减,是要去除仪器的宽化效应得到真实线性来计算再问：那这种曲线一般怎么得到？
可以把几个图合并为一个图.先画好三个图,把横坐标设置为一样的.假设你的图谱的高度最大为20,三个图的纵坐标范围分别设为（0,60）（-20,40）（-40,20）,然后编辑菜单下拉,有个合并图层,点击
不晓得
要比较一下某个相在某种原材料的不同参量下的结晶度或者分量有多少对空白样（没有参量的）做一个XRD检测,视为对比实验.
现在的XRD卡片都是和机器配套的,一般没有单独的.就是说你从厂家购买XRD仪,他会附带查询卡片给你.卡片统一由国际衍射资料中心出版,至1997年,已有卡片47组,包括有机、无机物相约67000张.因此
XRD与pdf卡片连用里面有不同物质的数据再问：不好意思啊还是不太明白能不能再具体一点谢谢！！！
有谢乐公式可以算晶面间距,并且通过峰的位置判断晶面hkl值.你可以用jade软件分析.
XRD图谱反映出的就是X射线衍射后的强度,第一看图上的峰值所对应的角度,看在哪个角度上有最大值和峰值之类的.第二比较不同方式,看图谱是否有移动,利用图形软件求出每个图谱的转折点,比较不同方式是否有红移
无水硫酸钙的XRD图
XRD:X-RayDiffractionX射线也是一种电磁波,即光,虽然根据其波长范围有硬软X射线之分,但用于晶体结构测定的X射线都是硬X射线,其波长与晶体中原子间距离处于同一数量级上[10^(-10
看你的个人需要了.个人比较推荐X射线衍射曲线拟合分蜂法,当然要分峰了,还要出的峰比较漂亮.详细的还在钻研中~2.第一张图比第二张图高一般说明不了什么为题,你的峰值没有移动,因为XRD的图的强度（Int
首先看三强峰能不能对上从你的3中看似乎对的不好呀再问：我就JADE自动分析的，按照3强峰匹配的说法，第二图是判断为有呢还是屋呢，第三图不是完全匹配，是不是就否定掉呢？再答：第二图也不能说有呀三强峰的强
二氧化硅