用干涉法检查平面平整度

检测平整度用的是空气劈尖干涉原理,当光垂直入射时,在工件的上表面和玻璃板的下表面反射的光相干涉,当光波的光程差为波长的整数倍时,形成明条纹,为半波长的奇数倍时,形成暗条纹.而光程差取决于空气层的厚度,

要用到刀口尺和塞尺.将刀口尺放在气缸平面四个边框中间及缸面对角线这六个位置,分别用塞尺找最大缝隙处测量,能塞进塞尺的最大缝隙处的值,就是该缸平面的平整度.

因为空气膜上下两层反射的同源光波频率相同产生了如同水波叠加的效果发生干涉需要同源光波并且恰好发生叠加(即波峰叠波峰波谷叠波谷)

样板的上下表面反射的光程差（厚度）太大,比起空气薄层来说.所以不至于干涉.还有光的振幅也有关系.

检查平整度用的是等厚干涉,两个明纹直接,工件的厚度差为一个波长,明纹暗纹之间厚度差是半个波长,从三角关系就可以看出,厚度是倾角对的直角边,条纹间距是斜边,所以倾角的正弦值=厚度差/条纹间距,也就是条纹

上一块光洁度高的板的下表面与待测面之间的空气层形成薄膜干涉.若待测面光洁度高,在上板观测到的亮线与暗线平行.若待测面有突起,此处对应的光程差小于此点未突起时的光程差,所以这点的光程差与靠近劈尖的尖部某

这里不需要偏振光源照射,也没有起偏振片

一般检测平面的平整度用平行平晶来检测,平行平晶的面积都不会做太大（面积越大加工工艺越复杂成本越高）,也就是说通常平行平晶的面积是小于待测样品面积的,被检查平面放在下面,平晶放在上面移动,这样操作比较方

这个不好定义的,如果你建筑本身墙面不平整装修的只会在原有基础上做平,至于倾斜墙体只能在上面封包一层面墙才能调整垂直.顶面水平也是同理.要检查最简单的,你拿吧小学生都有的直角三角板稍大一点的,专门找同条

用“前凹后凸”来判断.从空气薄膜的薄向厚看,如果条纹提前出现,则被测表面是凹下去的.如果条纹延后出现,则被测表面是凸起的.

产生这种现象是由于照射到膜上的光会从膜的前表面和后表面分别反射回来,形成两列波.这两列波是由同一入射波产生的,因此频率相同,相差恒定,能够产生干涉．竖立的肥皂薄膜在重力作用下成为上薄下厚的楔形,在薄膜

同一条条纹对应的厚度相同,条纹向左弯曲,说明缺陷处的厚度和右侧直线处的厚度相同,变大了,说明有凹坑

首先条纹肯定是明暗相间的,取从玻璃距物体越来越远的方向为正方向,条纹向正方向弯曲,则为凸.向负方向弯曲则为凹.

薄膜干涉把金属丝圆环在肥皂液里蘸一下,环上就形成一层肥皂液薄膜．用单色光照射薄膜,薄膜上就产生明暗相间的干涉条纹（图6-4）．产生这种现象是由于照射到膜上的光会从膜的前表面和后表面分别反射回来,形成两

原干涉条纹（左侧对应为尖角位置,实线为亮纹,虚线为暗纹,且假设第二条亮纹对应的垂直位置上物体表面不平整）：｜┊｜┊｜┊（2）检验条纹（物体表面凸起时）｜┊（┊｜┊（3）检验条纹（物体表面凹陷时）｜┊）

不是双缝干涉,而是薄膜干涉.

向左,因为凹下去的地方本来会出现条纹,由于凹下去的缘故,使样板与被测平面间的间距增大,若要产生条纹,就得使间距减小,与平整时的间距相同,使两列反射波叠加后出现亮或暗,所以光线只有向左移才会使间距与凹处

每一条条纹实际上都是高度差的等高线啦（等高线对应的光程差相等）.所以平整时是等距的,关于条纹随表面凹下突起的变化,就按地理上分析等高线的方法就行了.凹下时,凹下处厚度变大,所以条纹向薄的一侧突出,反之

又称“牛顿圈”.光的一种干涉图样,是一些明暗相间的同心圆环.例如用一个曲率半径很大的凸透镜的凸面和一平面玻璃接触,在日光下或用白光照射时,可以看到接触点为一暗点,其周围为一些明暗相间的彩色圆环；而用单

薄膜干涉把金属丝圆环在肥皂液里蘸一下,环上就形成一层肥皂液薄膜．用单色光照射薄膜,薄膜上就产生明暗相间的干涉条纹（图6-4）．产生这种现象是由于照射到膜上的光会从膜的前表面和后表面分别反射回来,形成两