用复色光厚度均匀的薄膜

薄膜干涉时,薄膜为楔状,所以厚度不同.双缝干涉时才有上述规律.有问题尽管找我哦!

要么光亮一片,要么显得暗淡（取决于薄膜厚度）,不会出现明暗相间的干涉条纹.

均匀薄膜也能产生干涉,只不过看到的就是单色,不是条纹.下一个问题你的看法是对的.但是若考虑薄膜的两面,就是从反面看,就恰恰相反了.

因为正入射下,当nh=(2m+1)λ/4,的时候反射率最小,m=0,1,2,3.所以,把两个波长带进去：1.3*h=(2m+3)*500/4=(2m+1)*700/4.因为厚度和折射率一定,波长长的一

由于是垂直照射,和折射率没有关系,由于光波长正好为油膜一半的时候会干涉消减所以：油膜的厚度约为250nm与350nm之间

入射到薄膜上后,光一分为二：一次反射光和射入介质的入射光.当入射光被玻璃反射,再经介质薄膜射出后,与一次反射光的光程差为2*1.25d.所以有2*1.25d=600*（2n+1）/22*1.25d=7

薄膜干涉——等厚条纹：明纹条件：2ne+λ/2=kλ；若减小薄膜的厚度,原先的零级暗纹逐渐消失,在边缘处的第一级明纹会变成零级暗纹,依次类推,第二级明纹第一级暗纹,……明纹的宽度为：L=λ/(2nsi

ZTMS08采用了德国进口激光位移传感器,将激光束作为接触测量时的机械探针,利用电荷耦合器件实现光电转换.真尚有测厚仪ZTMS08是将激光光源、光电检测和计算机工业控制技术相结合的光、机、电一体化的高

白光垂直照射薄膜,上表面的反射光有半波损失,而下表面的反射光没有半波损失.所以上、下表面的反射光光程差=2ne+波长/2.当光程差＝k*波长时反射光将增强.k＝1时,波长＝2401.6nmk＝2时,波

因为波程差相同的光是在同一干涉条纹（同一级）上的,而相同薄膜厚度的点,那里的两束光的光程差相同.注：在高中可能说是路程差.

我问你第一个暗条纹,k为0还是1,搞清楚这一点就可以了.显然第一条暗纹的k取值为0,所以,第七条暗纹的k取值自然是6了.

所谓的薄膜干涉就是说当薄膜的厚度等于光的波长的时候,该光在薄膜的表面和里面的反射光形成叠加效果发生干涉,紫色光的波长是所有的可见光中最短的,所以薄膜的要求厚度也是最小.

光波波长有500cm?反射有2束,一是从薄膜上表面反射,一是从薄膜下表面反射（等于从玻璃表面反射）,不管薄膜的折射率如何,这2束反射光平行离开薄膜.薄膜的下表面入射光与反射光有夹角,波的振幅不能完全抵

若实验未开始,在蒸镀的时候,遮上一块硅片,根据探针测试法就可以知道二氧化硅薄膜厚度了.如果已蒸镀,可用氢氟酸和氟化氨溶液将二氧化硅腐蚀,不一定要劈尖状,因为量一下腐蚀彻底的边缘硅片厚度,再与硅片上二氧

椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率椭偏法测量的基本思路是,起偏器产生的线偏振光经取向一定的1/4波片后成为特殊的椭圆偏振光,把它投射到待测样品表面时,只要起偏器取适当的透光方向,被待测样品表面反射出来的将

由于重力因素,薄膜的厚度并不是均与分布的,而是上面薄,下面厚,这样导致了光束通过薄膜时具有不同的光程差,这样就导致了原光场分布相位的变化,可以在屏幕上观察到干涉条纹

首先你需要有标准薄膜最少5片按照梯度设置.此标准薄膜厚度你是知道的.然后用此薄膜做出一条吸光度曲线.建立好之后插入未知薄膜即可测得一个吸光度.一般的软件就可以直接计算出厚度了.这个和测定溶液浓度是一个

等厚干涉重要的一个结论是\x08相邻条纹间隔永远是半波长那么此题6个条纹于是7个间隔,6*1.5*550nm=5.775um[micro-meter].这题难点在于判断六个条纹到底是几个间隔,也就是说

薄膜的厚度均匀,对于单色光会发生薄膜干涉,白光是复色光,具有不同的波长,对于同一入射角,不同波长的光折射角不同,会造成“色光的分散”,不同单色光各自单独形成的薄膜干涉条纹其实不会完全重合,这样,对于同

光线传播进去,镜头反射一部分出来,这样进去出来,不是厚度的2倍嘛.