怎么得出XRD峰的半高宽

来源:学生作业帮助网 编辑:作业帮 时间:2024/04/28 01:29:52
XRD晶粒尺寸计算已有XRD图谱,怎么计算所测样品的晶粒尺寸?

利用谢乐公式来计算谢乐公式的应用方法Dc=0.89λ/(Bcosθ)(λ为X射线波长,B为衍射峰半高宽,θ为衍射角)双线法(Williams-Hall)测定金属晶体中的微观应力晶块尺寸小于0.1μm,

什么样的薄膜材料测XRD的时候峰不明显

先查查卡片,看看样品的主强峰的2THETA角是多少,然后挑选主强峰跟这个2theta角相差10到20度范围的薄膜材料.

怎么从测得的XRD看晶体是单晶的还是多晶的呢,跟峰的多少有什么关系呢.同一种物质粉末和薄膜测得的XRD区别是不是很大

单晶还是多晶做个TEM中的SAED电子衍射不就行了,是点阵就是单晶,是环状就是多晶,XRD上是不容易确定的.查看原帖

用XRD的数据处理软件得出的晶粒大小为什么和用谢乐公式算的不一样

数据处理软件考虑的情况比较多,比如还考虑晶格畸变的影响.单纯的谢乐公式只考虑晶粒大小

【求助】XRD数据怎么计算不同晶型的含量

?:tiger05:zbdfwq5777(站内联系TA)利用软件拟合XRD就可以.利用软件拟合XRD就可以.X'pertPlus,GSAS,TOPAS,Fullpro等程序都可以,但初学者估计有一点难

XRD的测试条件怎么选择?有何依据?

入射角度,射线强度等

氧化铜的XRD衍射特征峰是多少?

16.623.8各有一个标识峰,30—40间有一簇峰,你可以用JADE或者pcpdf查找标准卡片.

一种物体里面有两种单体,物质测试XRD后,再把里面一种单体测XRD,另一种可以得出峰形么?如果可以,怎么

不知所云……若是只想测其中一个单体,测试员会忙你屏蔽其他干扰峰再问:是这样的,新合成一种物质,测出的谱图很复杂,估计是反应物有残留,找溶剂过滤,结果不好过滤,就把反应物做了XRD,这两种谱图能得出新合

在XRD 分析中,峰的强度低,

峰的强度低是XRD图谱的性质,就是峰不是很尖锐,峰很钝,学名叫宽化,这样反应的样品性质就是粒径很小,结晶度低是样品的性质,反映在图谱上就是有很大的噪音,图谱毛刺现象很重,需要平滑之后才能看.峰强度和结

,结果是怎么得出来的?

再问:右边的-6N是怎么出现的?再答:你几年级啊。。。

请教一下如何从xrd数据得出晶胞参数

数据要用txt类型的文件保存.格式如下:11119.00022031.27231136.84622238.54840044.81042255.65651159.35844065.23653168.62

XRD衍射谱图上的衍射峰对应的晶面该怎么看?

找到对应的物相的pdf卡片后,卡片上d值对应的晶面指数.

怎么看XRD谱图的分散性

XRD图谱反映出的就是X射线衍射后的强度,第一看图上的峰值所对应的角度,看在哪个角度上有最大值和峰值之类的.第二比较不同方式,看图谱是否有移动,利用图形软件求出每个图谱的转折点,比较不同方式是否有红移

根据XRD谱图能得出是什么物质么

与标准图谱对比可以得出,但不准确

用origin做的xrd图,怎么把各个峰对应的物相标出来!

Graph,点击附图中那个“T”Text Tool 按钮,此时光标会变成Ι形状,在图上对应峰位置点一下,然后可以输入相应的物相,不过如果你要把图输入到Word中的话,最好把字体改成

XRD的原理

XRD:X-RayDiffractionX射线也是一种电磁波,即光,虽然根据其波长范围有硬软X射线之分,但用于晶体结构测定的X射线都是硬X射线,其波长与晶体中原子间距离处于同一数量级上[10^(-10

根据XRD怎么就算聚合物的结晶度

看你的个人需要了.个人比较推荐X射线衍射曲线拟合分蜂法,当然要分峰了,还要出的峰比较漂亮.详细的还在钻研中~2.第一张图比第二张图高一般说明不了什么为题,你的峰值没有移动,因为XRD的图的强度(Int

xrd图怎么画

在写文章的时候,很多人需要用origin做出XRD处理图,以支持自己的观点.但是很多XRD谱图的文件类型是raw或者其他形式的,不能直接用origin打开.下面我们为大家讲解如何使用origin打开X

XRD数据怎么确定哪个峰是哪个晶面的?计算晶粒大小是用FWHM么?

XRD数据怎么确定哪个峰是哪个晶面的?答:分两种情况:1,数据库中,有卡片,参照卡片,对应晶面;2,无卡片(新物质),需要指标化,才能得到相应晶面.计算晶粒大小是用FWHM么?答:是的.但是谢乐公式有

关于XRD图谱的基本解析和解读,如何得出结论

最简单的就是看峰的形状,如果是尖锐的峰说明结晶性能好,弥散的峰说明结晶性不行;还可以计算结晶度;最主要的是利用JADE软件分析,可以进行衍射峰的指标化、进行晶格参数的计算、根据标样对晶格参数进行校正、