如何用迈克尔孙干涉测量仪测量材料的微小长度变化

这里用到等厚干涉的一个结论----在空气劈尖干涉时,相邻两条明条纹所对应的薄膜厚度差为入射光波长一半!

首先用平行相干光线照射劈尖形成等厚干涉,然后在表面数出若干条条纹,用公式：2nΔh=ΔNλ,其中n是折射率,平板间是空气,取1,Δh是厚度差,ΔN是条纹个数.从这个公式可以算出高度差Δh,然后量出这些

1,光的时间相干性与光源发光特性有关,一般的光源都是原子等粒子的高能级向低能级跃迁发生,而跃迁有一定寿命而且具有随机性.随机性导致不同的跃迁发出的光不相干,有一定寿命导致光波波列有限长,当光程差超过波

你所说的喇叭口工件的话.也就是指测量喇叭口的圆弧尺寸,看你测量的工件了.如果是喇叭口底部是实心的话,可以测量出大孔的直径、然后在测量小孔的直径,知道大孔直径跟小孔直径的话.在量测出喇叭口深度,知道深度

螺旋测位器会用吧?波长等于双缝到屏的距离乘以双缝之间的距离再除以单个条纹间距

定域实际就是指想干涉的双光束的交汇处.如等倾干涉时,要求两反射板平行,经相同角度反射回来相干的光是平行的,那么他们的交汇处是无穷远,只有使用凸透镜才能使其汇聚在有限的距离内,或是用眼睛直接观察才能看到

这里http://www.google.cn/search?hl=zh-CN&newwindow=1&client=pub-3555371946298911&prog=aff&q=%E8%BF%88%

这个比较简单.单个介质片带来的额外光程差为nd-d,即（n-1）d,但是迈克尔逊干涉仪是经过平面镜反射一来一回两条光路,二倍光程差,就是A选项

正好我有实验课教材对着书一个一个对号入座了1、A2、B3、C4、D5、理论上是一定的选B但是实际上白光单色性差,相干长度就很短,干涉仪是很难做出来的,其相干长度和波长是一个数量级的,这点书上也有提到.

迈克尔逊干涉仪工作原理干涉条纹是等光程差点的轨迹,因此,要分析某种干涉产生的图样,必求出相干光的光程差位置分布的函数.若干涉条纹发生移动,一定是场点对应的光程差发生了变化,引起光程差变化的原因,可能是

根据等倾干涉从中间数起第N个亮条纹的条纹半径公式：rN=(f/n0)*(√(nλ/h)*√(N-1+ε)).其中rN是半径,N是从中心向外数第N个圆环的数量,f是透镜焦距,n0是空气折射率等于1,n是

给你说一下思路：调整好迈克尔逊干涉仪,看到清晰的干涉条纹,记下某一条纹的位置.然后在光路中插入待测玻璃,再看条纹移动了多少距离,由此算出光程差的改变量.这个改变量就等于(n-1)d,n是折射率,d是玻

是说实验课上的测薄片厚度吗?数观察到的条纹数,每个条纹对应一个波长的位移,一般用的是钠灯吧,0.53μm波长（其实是两个很接近的值）,边界时去掉半个波长（半波损失）,结果就是薄片的厚度

看你迈克尔逊干涉仪是什么状态了,如果用在等厚干涉的时候,那么就是镜子1和镜子2的像所在直线的焦点上,因为2nhcosa=kλ,a是倾斜角,在等厚干涉中,这个不变,h决定了干涉级次,所以当h=0的时候是

等倾干涉和等厚干涉

影像测量仪测高,在不破坏零件的情况下有2种方法.前提是：必须在Z轴上安装光栅尺（所以您必须确认您的影像测量仪Z轴上有没有安装光栅尺,因为每个厂家的标准不一样,2.5次元也没有国家标准的）.第一种方法,

首先让激光进入那个牌子中心.然后调节那三个旋钮,拿纸把旁边一个挡住,激光与中心重合,再去调节另外一个同样的方法.调好后拿那个像轮子似的东西调节高度让激光穿过中间,然后就会看到像水波纹类似的像了.要数5

取决于你用的仪器了.除了两块反射镜外还有半反半透膜,从玻璃到膜和从空气到膜再反射时也要考虑有没有半波损失.你认为有半波损失应该是认为分束板只是玻璃和空气界面了.如果膜用的是银的话还要考虑电磁波在导体表

迈克尔逊干涉仪把一束激光分成两束,经过平面镜分别反射,再干涉,形成干涉环,如果有材料的长度的变化,反映出光程差的变化,这样,原来干涉相消的位置可能就会干涉相长,看起来就像环溢出或者收回,通过数干涉环溢

可以,将玻璃片放入干涉仪一臂,由于假设放入的玻璃片的厚度是h,折射率为1.5（通常都是1.5）,两臂的光程差将变为Δx+（n-1）h,其中Δx是可移动的镜子移动的距离,再利用干涉公式,光程差等于波长的