如何从XRD图谱得出实验条件

利用谢乐公式来计算谢乐公式的应用方法Dc=0.89λ/(Bcosθ)(λ为X射线波长,B为衍射峰半高宽,θ为衍射角)双线法（Williams-Hall）测定金属晶体中的微观应力晶块尺寸小于0.1μm,

首先:2THETA值与晶面间距d有关(BRAGG定律),所以,你可以根据2THETA的位置,得到晶系和晶胞参数.即也可以定性.再次:峰的高度,可以用来定量或解析晶体结构,如果制样时产生了择优取向,还可

利用XRD图谱计算晶格常数,首先要确定样品的晶胞类型,然后利用图谱几个相对强度较大的峰,在标准图中找到相应的k,h,l和相应晶胞角度,带入相应的计算公式,就可以解出相应的晶格常数了:用JADE软件可以

方法一：用jade5.0或者6.0,很复杂,你百度个教程看看方法二：人工分析第一步,你先去把可能物质的标准PDF卡片找出来,标出那三种物质的晶系,晶格常数等信息,PDF卡片上都有.第二步,用内标法或者

用xrd图谱中的d值与标准的pdf卡片进行比对,先对三强峰的d值,误差不超过0.02就行,看看定性分析的书!很多的!

XRD是定性用的,但是也能做到不大准确的定量分析.首先和标准图谱对比,能知道其含量,具体方法：选择一个比较明显的特征峰,先算出标准图谱的这个特征峰的积分面积,然后把需要测试的样品的同一个特征峰的积分面

d值是晶面间距（原子层的间距）,一种晶胞有多个d值,代表不同的原子层之间的距离.如果有多种晶胞,根据衍射峰的面积可以半定量分析.氧化铝陶瓷有晶相、玻璃相、气孔.晶相在做XRD时主要形成各个峰值,对背景

楼上的回答有误.如果你做的是粉末衍射的话,只有一个峰,你要先在pdf卡片中找到最可能的物相是哪一个,然后看你的物质和标准卡片对比少了的峰是哪些,还有就是你测试的物质这个唯一的峰对应的是不是标准卡片上的

峰位：如果不知道了待测物质是什么,通过峰位可以算出晶格常数,从而确定物质.如果已经知道了物质,算出的晶格常数应该跟你知道的物质的晶格常数差不多,差量可能是内应力引起的.可以据此分析内应力.峰宽：如果是

方法一：用jade5.0或者6.0,很复杂,你去百度个教程看看.方法二：人工解析第一步,你先去把可能物质的标准PDF卡片找出来,标出那三种物质的晶系,晶格常数等信息,PDF卡片上都有.第二步,用内标法

我有pentaerythritol,pdf卡片号48-0161再问：但是里面有Na2SO4-Na2O-SiO2-Al2O3-CH3OH这些是指什么呢她们的卡片号一样？你能帮我分析下我的谱图么我的Q是8

XRD衍射试样可以是金属、非金属的块体、片体或者粉末.对于块状、板状、圆柱状样品,必须将其磨成一个平面,面积不能小于10*10mm.如果面积太小可以用几块粘贴在一起.如果是片状、圆柱状样品可能会存在严

打开analysisy下拉菜单,选smoothing----FFTfilter,在弹出来的小窗口里输入5-10的数字,数字越大,图像平滑程度越高.但一般选7就差不多了,平滑太厉害就失真了.

首先简单说下原理——角度θ为布拉格角或称为掠射角.关于XRD的测量原理比较复杂,要知道晶体学和X射线知识.简单的来说（对粉末多晶）：当单色X射线照射到样品时,若其中一个晶粒的一组面网（hkl）取向和入

数据要用txt类型的文件保存.格式如下：11119.00022031.27231136.84622238.54840044.81042255.65651159.35844065.23653168.62

与标准图谱对比可以得出,但不准确

分析XRD图谱,必须用到pdf卡片,一般都是使用MDIJade软件进行处理.而你看到的那些峰,实际上就是晶胞晶面的衍射峰.你会经常在文献上看到别人的XRD图衍射峰上有“某某物质（111）”指的就是这个

file——》patern->选择要加的数据后点击add即可,然后在右边点向上的箭头就好了

如果样品是粉末就把样品压好在一个带凹槽的玻璃片上如果样品是陶瓷等就把样品用橡皮泥沾在凹槽上必须要和槽壁水平然后把玻璃片放在XRD衍射仪里关门测试

最简单的就是看峰的形状,如果是尖锐的峰说明结晶性能好,弥散的峰说明结晶性不行；还可以计算结晶度；最主要的是利用JADE软件分析,可以进行衍射峰的指标化、进行晶格参数的计算、根据标样对晶格参数进行校正、