单质硅的XRD图

这种专业问题还是要到百度知道上来问吧!不会得到好的解答的!

XRD要做的是纯的晶体,是为了测定晶体结构的,而且对相(phase)数也是有要求.你做的土壤是混合物,相数太多了,这样是没有意义的.简单就数据分析来看,8.9,17.7,26.7三个数据可能是对应于同

看B（Y）的最大值是多少,然后在C（Y）那列点右键,有个Setcolumnvalues,点那个,然后在“COL（C）=”那后面输入公式“col(B)+”B（Y）的最大值,例如B（Y）最大值是1500,

将数据格式转化为TXT文本格式,最好是X-Y格式（两列数据）,通过另存为变可以实现了,一般XRD设备中提供这种数据转换的软件.余下的事就简单了,直接导入到origin中就可以了.

我简单的回答你的问题X射线图谱可以测没一个面的晶粒大小也可以测平均晶粒尺寸pengjuan(站内联系TA)这个算的不是很准的,只能作参考.λ不用介绍了,是你做的XRD仪的波长；θ是最强峰的衍射角,要注

16.623.8各有一个标识峰,30—40间有一簇峰,你可以用JADE或者pcpdf查找标准卡片.

可以把几个图合并为一个图.先画好三个图,把横坐标设置为一样的.假设你的图谱的高度最大为20,三个图的纵坐标范围分别设为（0,60）（-20,40）（-40,20）,然后编辑菜单下拉,有个合并图层,点击

要比较一下某个相在某种原材料的不同参量下的结晶度或者分量有多少对空白样（没有参量的）做一个XRD检测,视为对比实验.

估计是蒙脱土的,环氧树脂碳酸钙PVC等不会在这么低的角度出峰,有机锡分散性能比较好,唯一可能的是蒙脱土,而且蒙脱土收受有机组分的支撑层间距会加大.

XRD是X射线衍射分析XRD图谱用来分析无机化合物的结构.通过XRD可以知道物质中所含的元素,以及元素的化合价,还可以通过相关的计算,得出该物质的空间点阵再问：谢谢了

波数：3441.90cm-1处出现的较宽的吸收峰,对应于-OH基的反对称伸缩振动和对称伸缩振动.1629.68(HOH).1103.05(SiO)cm-1处出现的强吸收谱带归属于Si-O-Si的反对称

详细信息你这个制备条件有什么不同从条件上找不同对应去看图主要是峰强度和半峰宽分析峰越宽粒径越小峰值越大晶化度越好你这个图样品A5A9与其他样品不太相似可详细分析再问：那怎么分析好啊~~再答：最好是找到

XRD图谱反映出的就是X射线衍射后的强度,第一看图上的峰值所对应的角度,看在哪个角度上有最大值和峰值之类的.第二比较不同方式,看图谱是否有移动,利用图形软件求出每个图谱的转折点,比较不同方式是否有红移

郁闷

应该是晶体结构再问：能具体点吗？3q再答：囧，我之前说错了。和别人讨论了一下，我们认为这是样品的来源。因为卡片库可由不同研究者向其提供发现的新物质的XRD谱图，审核之后汇总。用syn等注明用来建立该卡

Graph,点击附图中那个“T”Text Tool 按钮,此时光标会变成Ι形状,在图上对应峰位置点一下,然后可以输入相应的物相,不过如果你要把图输入到Word中的话,最好把字体改成

XRD:X-RayDiffractionX射线也是一种电磁波,即光,虽然根据其波长范围有硬软X射线之分,但用于晶体结构测定的X射线都是硬X射线,其波长与晶体中原子间距离处于同一数量级上[10^(-10

在写文章的时候,很多人需要用origin做出XRD处理图,以支持自己的观点.但是很多XRD谱图的文件类型是raw或者其他形式的,不能直接用origin打开.下面我们为大家讲解如何使用origin打开X

XRD图中有很多信息,如组成（物相）和结构、粒度、应力、结晶度等,其分析方法各不相同.比如,若是做物相分析,样品是已知物质的,你只要将XRD图谱与标准图进行比对就可以大致判断,一般设备中都会提供已知物

可以试试~